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AMELIORATION DU RENDEMENT MEMOIRE NOUVELLES TECHNOLOGIES H/F

RÉFÉRENCE : VIE/101799/2092017


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détail de l'offre

ITALIE (MILAN)
du 01 juillet 2018 au 01 juillet 2020 (pour 24 mois)
ETABLISSEMENT : STMICROELECTRONICS (CROLLES 2) SAS
REMUNERATION MENSUELLE : 2008€ (indemnité non contractuelle fixée par décret et arrêté, dont le montant peut varier notamment en
fonction de l’évolution du barème de référence, de la localisation de la mission et des cas d’abattements prévus par les textes)

Entreprise:
STMicroelectronics
Via C. Olivetti 2,
20864 Agrate Brianza (MB, Italy)

ST est l'un des leaders mondiaux dans les capteurs d'image et du ToF (Time Of Light) pour les téléphones portables et automobiles. Le capteur d'image et le ToF sont réalisés par la division IMAGING (IMG) de ST. Certains composants à l'intérieur des produits ToF proviennent de fournisseurs externes qui sont ensuite assemblés par ST pour fabriquer des modules ToF tout-en-un.


Poste et missions:
1. Contexte actuel : De plus en plus de mémoires sont embarquées dans les systèmes sur puce de dernière génération. Ces-dernières sont très sujettes aux défauts de fabrication dont le nombre, la diversité et la probabilité d’occurrence ne cesse d’augmenter lorsque les technologies de pointes sont utilisées. L’amélioration de la séquence de test des mémoires pour assurer la détection de ces types de fautes est donc un point clé pour garantir le respect des contraintes qualité. Cependant le but final n’est pas uniquement de garantir une couverture de faute optimale mais également d’identifier précisément la cause de ces défauts pour améliorer le rendement le plus rapidement possible.

2. Présentation du sujet : Le travail consistera dans un premier temps à mettre en place les procédures sur testeur pour collecter les données silicium. Ces-dernières seront alors traitées grâce aux outils de diagnostic disponibles et les résultats obtenus seront enfin analysés statistiquement pour déterminer les défauts systématiques. Les candidats ainsi obtenus seront fournis aux équipes d’analyse de défaillance pour trouver la cause physique du défaut qui servira à améliorer les recettes de fabrications.

Profil:

Compétences requises : Test mémoire, Verilog (ou VHDL), Simulation digitale, Tcl, C (ou C++), Anglais, Italien

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Publiée le 20 septembre 2017
de MILAN
Activités en entreprises

profil candidat

Nb de poste à pourvoir : 1

Expérience souhaitée : 0 mois

Niveau d'étude demandé : Bac + 5 et plus

Langue : Anglais , Italien

Domaines de compétences : Nanotechnologies

Filière d'étude : Ecole d'Ingénieur

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